Сканирующий электронный микроскоп (SEM) Carl Zeiss EVO 40 предназначен для получения изображений объектов в "прямых" электронах и электронах обратного рассеяния. Максимальное паспортное разрешение микроскопа составляет 3 нм. На практике разрешение несколько больше вследствие влияния вибраций и магнитных полей. Система микроскоп+управляющий компьютер показана ниже.

Использование специальных диафрагм позволяет производить наблюдение и регистрацию изображений в условиях как высокого (порядка 10^-4 Па), так и низкого вакуума (до 750 Па). Работа в условиях низкого вакуума позволяет получать изображения непроводящих объектов, что невозможно в среде высокого вакуума.

Укомплектован приставкой для анализа дифракционных картин HKL Channel 5 EBSD (Premium) для химического микроанализа (EDS), а также фазового и структурного анализа (EBSD), картирования распределения химических элементов по поверхности, определения фазового состава и ориентации зерен в поверхностном слое.
Укомплектован базами данных по фазам и структурам.

Пример: типичное изображение поверхности образца сплава в "прямых"
электронах. Хорошо видна дендритная структура кристаллитов.

наверх

2. «Olympus GX-51 »

Оптический микроскоп (Olympus, Япония)

Возможные режимы:

при увеличениях от 50 до 1500 (сменные объективы x5, x10, x20, x50, x100, х150) без использования метода иммерсии;
с использованием методов светлого и темного поля;
с использованием различных мето-дов контрастирования (поляризация,
дифференциальный интерференционный контраст (ДИК));

Пример: изображение микроструктуры при различном увеличении.

Съемка цифровой фотокамерой LU275C позволяет:

цветной режим;
разрешение 1600х1200 пикселей;
высокоскоростная USB 2(480МВit/s);
"живое видео" - 10 кадров в сек. при разрешении 1600х1200, 40 кадров в сек. при разрешении 800х600. Программное обеспечение SIAMS 700 позволяет
Получить цифровое изображение;
Улучшить качество изображений для печати и просмотра;
Провести измерения и оценку параметров изображений;
Создать разнообразные формы отчетов в форматах HTML, PDF, Mi-crosoft Word и Excel.

3. DelsaNanoC

Анализатор частиц субмикронного диапазона и определения дзета-потенциала (Beckman Coulter Ltd., США)

Прибор предназначен для пробоподготовки и аттестации образцов. Позволяет проводить измерение распределения частиц по размерам в диапазоне от 0,6 нм до 7 мкм, измерение поверхностного заряда частиц или пленок методом электрофоретического светорассеяния; диапазон определения размера частиц (0,6 нм - 7 мкм ); стандартный диапазон концентрации (0,001% - 10%).

наверх

4. CAMSIZER -XT

Анализатор частиц по размерам и форме

При динамическом анализе цифрового изображения, поступающего с двух камер с частотой 275 кадров в сек, позволяет получать:

средний размер частиц сухих, пористых сыпучих материалов;
плотность распределения частиц по размерам;
коэффициенты формы частиц: сферичность, симметричность, соотношение ширины и длины, количественные показатели частиц с определенной формой.

Диапазон анализируемых частиц: от 3 мкм до 3 мм, минимальный вес образца 5 г.

наверх